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Chip Probing
晶圆测试CP
砺芯半导体具备6~12寸晶圆的CP(circuit prob)测试服务能力,为复杂大规模SoC芯片、射频和通讯芯片、模拟和混合信号芯片等芯片产品晶圆提供定制化的CP测试服务支持。
砺芯半导体结合电子科大长三角研究院以及华润赛美科联合实验室的支持,针对性的为客户开发不同测试深度、测试强度以及测试覆盖率的定制化测试解决方案,以响应客户对集成电路测试的个性化性能需求和及时交付的需求。
晶圆测试(CP)
12寸,8寸,6寸晶圆测试
设备有:P8, P12, UF200, UF3000等
适用范围
模拟芯片,数字芯片,数模混合芯片
测试设备:STS8200, CTA8280, S100, CHROMA3380P, J750HD等
测试业务流程
需求挖掘➔模块构建➔服务方案设计➔方案实施及反馈➔服务交付完成
测试工艺流程
测试方案评估➔外发制作针卡➔LB制作➔测试程序开发➔上机调试➔数据确认➔量产➔提供客户测试报告及测试数据➔出货
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